塞貝克系數測定儀的主要構成分析
點擊次數：1560 更新時間：2017-06-08
塞貝克系數測定儀可用于測量某些材料的塞貝克系數（熱電系數）；塞貝克系數測定儀是根據地質、礦業、物探、半導體科研院所的需求而設計的新型自動化數字化熱電系數測量儀，用于測量具有類似半導體特性的各種礦物，如黃鐵礦等及一般半導體材料的熱電系數。在某些礦物和半導體材料的研究中測取熱電系數具有重要的用途和意義。
塞貝克系數測定儀適合于礦業、地質、物探、半導體等有關科研院所和高等學校使用。適合于測量直徑在0.1~1.0mm之間的微小晶體的熱電系數和導型。
塞貝克系數測定儀主要由以下幾部分構成：
1、控制箱體：箱體由兩部分組成，上箱左側設有手動按鈕，箱內安裝雙試件測定裝置，下箱安裝制冷系統，氣壓傳動控制系統。
2、微機控制系統：由高配置工業控制計算機、打印機組成。完成檢測信號采集、處理、溫控、時控計算、報表打印等功能。
3、雙試件測定裝置：由加熱單元和兩個冷單元組成。其中冷單元可根據試件的不同厚度由傳動系統自動調節空間位置。
4、制冷系統采用直冷式的制冷方式，冷卻側板。
塞貝克系數測定儀適合于礦業、地質、物探、半導體等有關科研院所和高等學校使用。適合于測量直徑在0.1~1.0mm之間的微小晶體的熱電系數和導型。
塞貝克系數測定儀主要由以下幾部分構成：
1、控制箱體：箱體由兩部分組成，上箱左側設有手動按鈕，箱內安裝雙試件測定裝置，下箱安裝制冷系統，氣壓傳動控制系統。
2、微機控制系統：由高配置工業控制計算機、打印機組成。完成檢測信號采集、處理、溫控、時控計算、報表打印等功能。
3、雙試件測定裝置：由加熱單元和兩個冷單元組成。其中冷單元可根據試件的不同厚度由傳動系統自動調節空間位置。
4、制冷系統采用直冷式的制冷方式，冷卻側板。